 
Anritsu KL151A SLB Dia non-contact Measuring System
KL151A는 레이저 빔을 이용해 초당 1000회 , 정밀도 0.5μm로
비접촉방식으로 외경을 측정하는 장비입니다.
전원 케이블, 메뉴얼 2권, 전원 키, 검출부 접속 케이블,
연결기 Assy2개, 플러스 드라이버 구성입니다. 실사진
안리츠의 KL150A SLB Dia Measuring System 은
비접촉 측정장비로 생산라인에서 고속 가공중인 상태에서 직접 측정이 가능해 선형재료, 광섬유 가공등의 선재 공정에서 품질 콘트롤
용으로 사용되고 있습니다. 안리츠의 독점적인 터닝 포크 왕복 스케닝 시스템은 레이저 빔을 이용합니다. 예를들어 광섬유 wob 덩이로
인한 에러발생을 원천적으로 막아줍니다. 또 고속으로 이루어지는 광섬유 제조에서 정확한 외겅을 측정해 줍니다.
특징은
- 왕복 스케닝 방법 허용
- 진동하는 물체의 외경에 대한 안정된 측정이 가능
- 고 신뢰도 와 장수명 (턴포트 디플렉터와 레이더 다이오드빔은 교체가 필요없습니다.)
- 디스플레이 유닛부의 호환성이 뛰어납니다.
- KL151A 는 FDA 요구와 IEC 표준의 안성성에 충족되고 있습니다.
KL151A 외경 측정기
- 소리방식에 의한 레이저빛의 왕복 주사로, 라인 측정에 있어서의 선편차 오차를 해소합니다.
- 광원에 반도체 레이저를 채용. 소리편향기와 아울러 장수명과 고신뢰성을 실현했습니다.
- 표시부와 검출부에 완전 호환성을 실현해, 동일 시리즈내에서의 편성이 무조정으로 가능합니다.
- 레이저의 안전기준에 준거하고 있습니다.
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형명 |
KL151A |
KL151ATW |
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측정 범위 |
0.03~2mm |
0.05~0.3mm |
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측정 가능 영역 |
주사 방향 |
2.1mm |
2.1mm |
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광축 방향 |
2.0mm |
mm |
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반복성*1,*5
() 안은 평균화 주기와 평균 회수 |
±0.15μm(16 ms, AVG16)
±0.05μm(1 s, AVG1024) |
±0.05μm(16 ms, AVG16 |
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직선성*2,*5 |
±0.3μm(φ0.1~1.0 mm)
±0.5μm(φ0.03~2.0 mm) |
φ125±1μm*4 |
φ0.05~0.3mm |
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――― |
±0.25μm |
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재현성*3,*5 |
±0.3μm(φ0.05~2.0 mm)
±1μm(φ0.03~0.05 mm) |
±0.05μm(측정 가능 영역 1 x1mm)
±0.15μm(측정 가능 영역 2 x2mm) |
±0.2μm(측정 가능 영역 2 x2mm) |
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안정도 |
±0.2μm(±0.5℃의 주위 온도 변화에 대해서) |
±0.05μm |
±0.1μm |
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±5℃, 연속 10시간 |
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측정 회수 |
매초 1000회 |
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광원 |
불가시 반도체 레이저, 파장：780 nm, 외부 외부 출력 1 mW이하 |
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레이저 제품의 클래스 |
클래스 3 B |
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사용 온도, 습도 |
0~45℃, 85%이하
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예열 시간 |
30분 |
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치수, 질량 |
216(W) x88(H) x57(D) mm, 1.5kg |
- 동일 방법으로 동일한 피측정물을, 비교적 짧은 시간에 반복 측정했을 경우에 있어서의 측정치의 불균형(3σ)입니다.
- 표준 게이지 세트(옵션)로 교정해, 측정 가능 영역의 중심 위치에서 표면이 광택 마무리하고 된 금속제의 피측정물을 측정했을 경우입니다.
- 측정 가능 영역의 중심을 기준으로 한 측정 가능 영역내에서의 피측정물의 위치에 의한 출력 변동입니다.
- 석영계 광섬유를 피측정물로 합니다.
- 외경 측정에 관한 규격입니다.
KL350A 디스플레이 유닛
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기
능 |
측정치의 평균화 |
단순평균 |
2~1024회(2배 스텝)(평균화 주기 및 출력 주기>2 ms~1 s) |
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이동평균 |
16~1024회(출력 주기：평균 회수/4 ms) |
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목표치 설정 |
0~9.99999mm |
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상하한치의 설정 |
0~±0.99999mm |
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상하한판정 기능 |
최대 7 단계(상하한치 설정 범위내를 5 분할) |
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세그먼트(segment) 기능 |
외경, 투명 체외지름, 틈 및 임의의 엣지간 측정(최대 6 엣지 측정 가능) |
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pre-set 기능 |
~9.99999mm |
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통계 기능 |
MAX, MIN, x, Ra, s.d. , n |
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측정 모드 |
연속 측정, 1회 측정, 기간 연속 측정, 자기 주기 측정 |
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프로그램의 기억 |
최대 10방법까지의 측정 조건을 기억 |
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표
시 |
수치 표시 |
측정치, 목표치, 상한치, 하한치, pre-set의 설정 표시와 공용 |
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측정치의 최소 독해치 |
0.00001 mm(표시 단위는 mm, m전환가능) |
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피측정물의 위치 |
주사 방향 5 단계, 광축 방향 5 단계 |
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모니터 램프 |
상하한판정, 레이저 수광량의 적부, 레이저 방사 |
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입
출
힘 |
아날로그 편차 출력(레시오 완전히 교체되고) |
±10V/10 mV(x1, x10, x100, x1000) |
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시리얼 I/O |
RS－232 C인타후에이스, 통신 속도 300~9600bps
측정 조건 설정, 측정 제어, 측정치(절대치)·목표치·상하한치의 설정과 읽어내 |
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패러렐 출력(옵션) |
NPN 트랜지스터 오픈 수집가 24 V, 10 mA, 21 bit 바이너리 또는 부호부 6자리수 BCD(변환), 선별 출력(3 bit 코드), 알람 출력 3점 |
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제어용 아날로그 출력(옵션) |
·주사 방향 위치, 광축 방향 위치
출력전압：±10 V(중앙 0 V), 최대 출력 전류：8mA
편차 출력
출력전압：±5 V, 최대 출력 전류：8mA |
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경보 선별 출력 |
photo-coupler 출력(10 mA, 24 V) 10점, 선별 출력 7점, 레이저광강도 저하, 피측정물 위치 어긋나 기기 이상 |
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측정 제어 입력 |
photo-coupler 입력(10 mA, 24 V) 2점, 방아쇠(측정 개시, 종료), 통계 종료 |
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레이저 외부 제어 |
레이저의 발광을 ON, OFF 합니다 |
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전원, 사용 온도, 습도 범위 |
AC90~125 V, 50/60 Hz, 80 VA이하, 0~45℃, 80%이하 |
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치수, 질량 |
284(W) x115(H) x280(D) mm, 약 5kg |
실사진입니다.
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